ГОСТ Р 56648-2015: База электронная компонентная для ракетно-космической техники. Входной контроль и дополнительные испытания. Общие положения

Введение

Настоящий стандарт разработан для:

–    обеспечения единых требований по проведению входного контроля и дополнительных испытаний электронной компонентной базы;

–    организации единой терминологии в области входного контроля и дополнительных испытаний электронной компонентной базы;

–    разработки единых методик проведения испытаний электронной компонентной базы иностранного и отечественного производства, учитывающих как европейские стандарты [1], [2], так и стандарты Соединенных Штатов Америки [3] – [8];

–    уточнения существующих требований к испытательным центрам (испытательным лабораториям);

–    обеспечения единых требований по отчетной документации после проведения входного контроля и дополнительных испытаний;

–    определения в области ракетно-космической техники необходимого объема входного контроля и дополнительных испытаний;

–    повышения уровня контроля качества проверяемой электронной компонентной базы иностранного и отечественного производства для ракетно-космической техники;

–    оптимизации проведения входного контроля и дополнительных испытаний.

Настоящий стандарт ориентирован на испытательные центры (испытательные лаборатории).

2    нормативные ссылкив настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:гост 12.1.005-88 система стандартов безопасности труда. общие санитарно-гигиенические требования к воздуху рабочей зоныгост 12.2.032-78 система стандартов безопасности труда. рабочее место при выполнении работ сидя. общие эргономические требованиягост 20.57.406-81 комплексная система контроля качества. изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. методы испытанийгост 15150-69 машины, приборы и другие технические изделия. исполнения для различных климатических районов. категории, условия эксплуатации, хранения и транспортирования в части воздействия климатических факторов внешней средыгост 16504-81 система государственных испытаний продукции. испытания и контроль качества продукции. основные термины и определениягост исо/мэк 17025—2009 общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторийгост 24297-2021 верификация закупленной продукции. организация проведения и методы контролягост р 8.568-97 государственная система обеспечения единства измерений. аттестация испытательного оборудования. основные положениягост р 50779.11-2000 статистические методы. статистическое управление качеством. термины и определениягост р 56649-2021 техника ракетно-космическая. электронная компонентная база иностранного производства. порядок примененияиздание официальноепримечание — при пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети интернет или по ежегодному информационному указателю «национальные стандарты», который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя «национальные стандарты» за текущий год. если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.

В настоящем стандарте применены термины по ГОСТ 16504, ГОСТ Р 50779.11, а также следующие термины с соответствующими определениями:

3.3    высоконадежная электронная компонентная база иностранного производства: Изделия электронной компонентной базы иностранного производства, изготовленные в соответствии со спецификациями, в которых заданы, гарантированы или заявлены категория качества и(или) область и условия применения изделия, а также объем проведенных испытаний изделия.

Примечание — Спецификации могут быть согласованы международной или государственной организацией страны — производителя изделия.

3.4    дополнительные испытания; ДИ: Совокупность разрушающего физического анализа и неразрушающих испытаний, проводимых с целью выявления дефектов испытуемой электронной компонентной базы.

3.5    заказчик: Физическое или юридическое лицо, обратившееся в испытательный центр (испытательную лабораторию) с заявкой на проведение входного контроля и(или) дополнительных испытаний электронной компонентной базы.

3.6    заключение по испытаниям: Документ, который подтверждает факт проведения входного контроля и(или) дополнительных испытаний электронной компонентной базы иностранного и отечественного производства, составляется на основе протоколов испытаний и включает основные выводы о результатах проведенных испытаний.

3.7    информационно-технический материал: Документ, разработанный на основе технической спецификации или сопроводительной документации на электронную компонентную базу иностранного производства (ЭКБ ИП) и включающий технические характеристики и условия ее эксплуатации, регламентированные фирмой-производителем.

3.8    испытательная оснастка: Совокупность технических средств, необходимых для проведения испытаний.

3.9    испытательный центр (испытательная лаборатория); ИЦ: Центр (лаборатория), аттестованный^) на право проведения испытаний электронной компонентной базы в соответствии с ГОСТ ИСО/МЭК 17025.

3.10    категория качества электронной компонентной базы: Градация качества изделий электронной компонентной базы иностранного и отечественного производства, характеризуемая уровнем надежности и, при необходимости, другими эксплуатационными свойствами, обуславливающими пригодность их применения в аппаратуре определенного назначения.

3.11    квалифицированная электронная компонентная база иностранного производства высокой надежности: Изделия высоконадежной электронной компонентной базы иностранного производства, имеющие квалификационное наименование, указанное в документе, в соответствии с ко-

1    область применения

Настоящий стандарт распространяется на электронную компонентную базу иностранного и отечественного производства для разработки, производства и ремонта ракетно-космической техники гражданского (научного и социально-экономического) и коммерческого назначения.

Положения настоящего стандарта подлежат применению в испытательных центрах (испытательных лабораториях).

Настоящий стандарт устанавливает требования:

–    к порядку проведения входного контроля и дополнительных испытаний;

–    условиям поставки, хранения и передачи заказчику электронной компонентной базы иностранного и отечественного производства;

–    порядку обращения с изделиями электронной компонентной базы во время проведения входного контроля и дополнительных испытаний;

–    месту проведения испытаний;

–    испытательному центру (испытательной лаборатории);

–    метрологическому обеспечению;

–    критериям отбраковки электронной компонентной базы.

4    обозначения и сокращения

4.1    В настоящем стандарте применены следующие обозначения:

д — ускорение свободного падения, м/с2 (д = 9,8 м/с2).

4.2    В настоящем стандарте применены следующие сокращения:

ИП — иностранное производство;

ОП — отечественное производство;

ТУ — технические условия;

НД — нормативный документ.

5    общие положения

5.1 ЭКБ ИП и ОП классифицируется по категориям качества в соответствии с рисунком 1. Критерии определения категории качества для ЭКБ ИП приведены в ГОСТ Р 56649.

Рисунок 1

5.2    Методы и условия проведения ВК и(или) ДИ должны быть согласованы с Заказчиком и соответствовать ГОСТ 24297 и(или) ГОСТ 20.57.406, а также методам и условиям, установленным в нормативной и технической документации на проверяемую ЭКБ (общим ТУ и(или)

ТУ для ЭКБ ОП и технической спецификации для ЭКБ ИП). В технически обоснованных случаях (например, при отсутствии в национальных стандартах методов (методик) проведения испытаний ЭКБ ИП и пр.) по согласованию с заказчиком допускается проводить ВК и(или) ДИ по собственным методам (методикам) ИЦ.

5.3    Во время проведения ВК и(или) ДИ следует соблюдать меры защиты от статического электричества в соответствии с нормативной и технической документацией производителя ЭКБ ИП и ОП и другими нормативными документами.

5.4    В технически обоснованных случаях (например, при испытаниях ЭКБ ОП категории качества «Н» и(или) изделий ЭКБ ИП и ОП, имеющих малые габариты, и(или) в случаях невозможности обеспечить контактирование ЭКБ ИП и ОП при проведении ВК и(или) ДИ и пр.) по согласованию с заказчиком допускается монтировать ЭКБ ИП и ОП в испытательную оснастку.

При этом она не должна:

– механически и(или) электрически повреждать испытуемую ЭКБ ИП и ОП;

–    при измерениях вносить погрешности, превышающие в сумме с погрешностями испытательного оборудования и(или) средств измерений нормы, установленные в нормативной и технической документации на методы испытаний.

Примечание — В технически обоснованных случаях по согласованию с заказчиком допускается применение испытательной оснастки с повышенными погрешностями.

5.5    Рабочие места и персонал, осуществляющий ВК и(или) ДИ, должны быть аттестованы в соответствии с ГОСТ 12.2.032, ГОСТ 12.1.005.

5.6    Во время проведения ВК и(или) ДИ в ИЦ хранение ЭКБ ИП и ОП осуществляется в ИЦ.

5.7    Условия хранения ЭКБ ИП и ОП следует определять в соответствии с требованиями нормативной и технической документации на нее.

ЭКБ ИП и ОП, чувствительную к влажности среды, следует хранить в шкафах сухого хранения. Допускается хранить ее в условиях производственных помещений с проведением последующей операции просушивания. Длительность и условия просушивания ЭКБ ИП и ОП определяются в нормативной и технической документации на нее.

5.8    Испытательное оборудование должно быть аттестовано в соответствии с ГОСТ Р 8.568, а средства измерений должны быть поверены в соответствии с [9].

5.9    Условия хранения и инвентаризации применяемой испытательной оснастки определяются в соответствии с действующими в организации нормативными документами.

5.10    Испытательная оснастка, испытательное оборудование, а также средства измерений должны обеспечивать возможность проведения функционального контроля ЭКБ ИП и ОП, объем которого определяется исходя из функционального назначения изделия ЭКБ и указывается в соответствующей программе испытаний.

5.11    Для использования в штатном изделии ракетно-космической техники ЭКБ ИП и ОП необходимо наличие подтверждения стойкости ее и(или) штатного изделия ракетно-космической техники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства.

5.12    В случае возникновения повреждения и(или) отказа ЭКБ ИП и ОП в процессе проведения ВК и(или) ДИ в ИЦ, возникших по причинам, не связанным с качеством изделий, ИЦ несет ответственность согласно условиям заключенного договора с заказчиком.

5.13    Длительность и условия хранения в ИЦ отчетной документации по проведенным испытаниям должны быть регламентированы заключенным договором с заказчиком.

5.14    При проведении ВК и(или) ДИ изделий ЭКБ ИП и ОП обеспечивается:

–    подготовка к проведению испытаний (разработка испытательной оснастки, методов или методик проведения испытаний, обучение персонала и пр.);

–    проведение необходимых испытаний, установленных в соответствии с программой испытаний, и оформление отчетной документации;

–    метрологическое и нормативно-техническое обеспечение применяемых методов (методик) проведения испытаний, испытательного оборудования и средств измерений;

–    соблюдение правил хранения и передачи заказчику изделий ЭКБ ИП и ОП (при проведении ВК и(или) ДИ в ИЦ);

–    проведение анализа причин возникновения дефекта(ов) у изделия(ий) ЭКБ ИП и ОП;

–    проведение контроля за устранением дефектов изделий ЭКБ (для ремонтопригодных изделий

ЭКБ);

–    проведение работ по выявлению контрафактных изделий ЭКБ ИП.

5.15    ВК и(или) ДИ следует проводить по программе испытаний, которая предоставляется заказчиком или разрабатывается в ИЦ. Программа испытаний, разработанная в ИЦ, утверждается заказчиком. Допускается составлять единую (типовую) программу проведения испытаний, которая может:

–    распространяться на ВК и ДИ;

–    объединять изделия ЭКБ ИП и ОП, предназначенные для комплектования различных изделий ракетно-космической техники;

–    объединять изделия ЭКБ ИП и ОП исходя из объема, последовательности, условий испытаний, а также их конструктивных, функциональных и(или) эксплуатационных особенностей.

5.16    При составлении программы ДИ для электронных модулей следует учитывать требования к обеспечению надежности аппаратуры ракетно-космической техники.

5.17    При проведении испытаний ЭКБ ИП рекомендуется выполнять следующие проверки, направленные на выявление контрафакта:

–    проверка качества маркировки изделий (отсутствие перемаркировки, положение маркировки, ее контрастность, целостность, размер, цвет и пр.);

–    проверка информативной составляющей маркировки (соответствие наименования изделия, его даты производства, номера партии и пр. официальным данным фирмы-производителя);

6 входной контроль и дополнительные испытания электронной компонентной базы отечественного производства

6.1    Изделия ЭКБ ОП для штатных изделий ракетно-космической техники должны пройти с положительными результатами ВК и ДИ.

6.2    ВК и ДИ ЭКБ ОП проводят с целью выявления изделий, не соответствующих требованиям паспорта и(или) ТУ и(или) имеющих скрытые дефекты.

6.3    ЭКБ ОП, поставляемая на ВК и(или) ДИ, должна:

–    относиться к одной партии;

–    иметь сопроводительную документацию с обозначением нормативной и технической документации, требованиям которой она должна удовлетворять.

6.4    Проведение ВК ЭКБ ОП должно удовлетворять требованиям ГОСТ 24297.

6.5    ВК подвергаются все изделия ЭКБ из партии.

Примечание — В технически обоснованных случаях (например, при необходимости повторного проведения ВК, ДИ, и(или) поступлении большого объема партии ЭКБ, и(или) наличии малых габаритов у испытуемых изделий, и(или) отсутствии в ИЦ устройства для упаковывания малогабаритных изделий ЭКБ и пр.) по согласованию с Заказчиком допускается проведение ВК и(или) ДИ на выборке.

6.6    ДИ подвергаются все изделия ЭКБ, прошедшие ВК с положительными результатами, за вычетом выборки на РФА.

6.7    РФА подвергается выборка ЭКБ, прошедшая ВК с положительными результатами. Объем выборки ЭКБ на РФА должен быть достаточным для подтверждения качества партии изделий. Рекомендуемый объем выборки — не менее двух штук для диодов и реле, не менее четырех штук для транзисторов и микросхем. Приемка партии по результатам РФА осуществляется при С, равном нулю.

Внутренний визуальный контроль, входящий в состав РФА, проводят не менее чем на двух изделиях ЭКБ на соответствие требованиям нормативной и технической документации, действующей в ракетно-космической отрасли. Дополнительное изделие может быть использовано при условии случайного повреждения испытуемых изделий ЭКБ при подготовке и(или) проведении контроля, или в случае его неоднозначного результата.

6.8    ВК и(или) ДИ изделий ЭКБ проводятся на основе программы испытаний, которая предоставляется заказчиком или разрабатывается в ИЦ путем анализа требований ТЗ и действующих национальных стандартов в области испытаний (ГОСТ 20.57.406 и других).

6.9    В программу ВК и(или) ДИ следует включать:

–    цель и задачи испытаний изделий ЭКБ;

–    тип испытываемой ЭКБ (например, микросхема, диод и т. д.);

–    объем выборки на РФА;

–    условия, режимы, порядок, место, виды и этапы проведения испытаний;

–    метрологическое обеспечение ВК и(или) ДИ;

–    критерии отбраковки;

–    объем отчетной документации;

–    другие положения, позволяющие конкретизировать процедуру проведения ВК и(или) ДИ;

–    приложения (при необходимости).

Форма составления программы ВК и(или) ДИ – произвольная.

6.10    Объем ВК, ДИ, который рекомендуется включать в программу испытаний для интегральных микросхем, микросборок и полупроводниковых приборов, представлен в таблице 1.

7 входной контроль и дополнительные испытания электронной компонентной базы иностранного производства

7.1    Изделия ЭКБ ИП для штатных изделий ракетно-космической техники должны пройти с положительными результатами ВК и ДИ.

7.2    ВК и ДИ ЭКБ ИП проводят с целью выявления изделий, не соответствующих требованиям технических спецификаций производителя (или информационно-техническим материалам, составленным по 7.4) и(или) имеющих скрытые дефекты.

7.3    Поставляемая на ВК и(или) ДИ ЭКБ ИП должна относиться к одной партии. Рекомендуется осуществлять ее поставку совместно с сопроводительной документацией.

Примечание — Объем сопроводительной документации рекомендуется определять исходя из категории качества ЭКБ ИП.

7.4    На основе технической спецификации и(или) сопроводительной документации на ЭКБ ИП рекомендуется оформить документ (информационно-технический материал), включающий технические характеристики и условия эксплуатации ЭКБ ИП, регламентированные фирмой-производителем и другую официальную информацию, необходимую для проведения испытаний. Проведение ВК и(или) ДИ изделий ЭКБ ИП аналогично 6.4—6.11 и 6.13—6.19.

7.5    Для каждой испытываемой партии изделий ЭКБ ИП должен оформляться в бумажном и(или) электронном виде маршрутный лист ВК и(или) ДИ в соответствии с таблицей 2. Форма составления маршрутного листа ВК и(или) ДИ — произвольная.

Таблица2

7.6 Анализ соответствия представленной сопроводительной (доказательной) документации на каждое изделие (партию изделий) высоконадежной ЭКБ ИП требованиям по объему проводимых испытаний и условиям их проведения, указанным в программе ВК и(или) ДИ (далее – анализ соответствия программе ВК, ДИ), следует проводить в соответствии с 7.6.1-7.6.7.

7.6.1 Анализ соответствия программе ВК, ДИ рекомендуется оформлять в виде таблицы, форма которой приведена на рисунке 2.

7.6.2    В графу «Наименование…» следует вписывать виды испытаний, которые указаны в программе испытаний ВК и(или) ДИ на конкретную высоконадежную ЭКБ ИП.

Пример — В качестве видов испытаний могут быть указаны электротермотренировка (термотренировка), контроль функционирования при пониженном напряжении питания, контроль свободно перемещающихся частиц внутри корпуса по уровню шума и др.

7.6.3    Графу «Согласно программе…» заполняют теми значениями условий испытаний, которые должны быть подтверждены (обеспечены) в процессе проведения ВК, ДИ. Данные значения указываются в программе ВК и(или) ДИ.

Пример — Если согласно программе ВК и(или) ДИ предельная пониженная рабочая температура ЭКБ ИП определяется по технической спецификации, в которой указано значение минус 40 °С, то в графу «Наименование…» следует вписать «Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры окружающей среды», а в графу «Согласно программе…» — «по технической спецификации: минус 40 °С».

7.6.4    В графу «Согласно сопроводительной…» следует вписывать те условия испытаний, которые были подтверждены (обеспечены) фирмой — производителем изделия ЭКБ ИП в ходе проведения собственных испытаний. Эти значения указываются в сопроводительной документации на конкретное изделие ЭКБ ИП.

7.6.5    В графе «Требование…» следует указать, необходимо ли проведение испытания. Для этого следует проанализировать, соответствуют ли условия испытаний, представленные в сопроводительной документации на конкретное изделие ЭКБ ИП, требованиям программы ВК и(или) ДИ.

Если условия соответствуют, то в данную графу следует вписать «Испытание проводить не требуется», в противном случае — вписать «Требуется проведение испытания». Если в графе «Согласно сопроводительной…» указано «нет данных», то в графе «Требование…» следует вписать «Требуется проведение испытания». Пример проведения анализа соответствия программе приведен в таблице 3.

Библиография

Space product assurance. Quality assurance for test centers

Space product assurance. Electrical, electronic and electromechanical (EEE) components Test method standard. Electronic and electrical component parts Test method standard. Test methods for semiconductor devices Test method standard. Microcircuits

Performance specification. Semiconductor devices, general specification for Performance specification. Hybrid microcircuits, general specification for Performance specification. Integrated circuits (microcircuits) manufacturing, general specification for

Правила по метрологии. Государственная система обеспечения единства измерений. Порядок проведения поверки средств измерений

УДК 658.562.64:006.354    ОКС    49.020

Ключевые слова: база электронная компонентная, ракетно-космическая техника, входной контроль, сертификация, отбраковочные испытания, дополнительные испытания, сертификационные испытания, классификация, хранение, транспортирование

Редактор В.М. Романов Корректор М.В. Ручная Компьютерная верстка Е.И. Мосур

Подписано в печать 08.02.2021. Формат 60x84Va Уел. печ. л. 2,33. Тираж 33 экз. Зак. 4106.

Подготовлено на основе электронной версии, предоставленной разработчиком стандарта

ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ»

Нормативная база – свидетельство экб – мниирип

Подтверждение соответствия